Студопедия.Орг Главная | Случайная страница | Контакты | Мы поможем в написании вашей работы!  
 

Контроль состояния деталей АТ магнитным методом



Магнитная дефектация используется при контроле сплошности материала деталей из сталей и других ферромагнитных материалов. Основано на обнаружение и регистрации магнитных полей рассеивания возникающих в намагниченном изделии над дефектами. Если испытуемую деталь поместить в магнитное поле, то в ней возникают магнитные силовые линии. При отсутствии дефектов магнитные линии не искажаются. При наличие несплошности, находящихся на пути магнитного потока, часть магнитных линий выходит из деталей и за тем снова входит в нее. В местах выхода и входа магнитных линий возникают местные магнитные полюса, между которыми размещается магнитное поле рассеивания, расположенное над дефектом. Это поле может быть обнаружено и зарегистрировано двумя способами: магнитопорошковым или магнитографическим.

Чувствительность магнитопорошкового контроля: ширина трещины более 0.001 мм, глубина более 0.01 мм. При этом методе на диагностируемые участки детали наносят ферромагнитный порошок мокрым или сухим методом. При попадании на намагниченную деталь над дефектом в следствии наличия магнитных полюсов намагниченные частички притягиваются к месту наибольшей концентрации магнитных линий. Этот метод позволяет рельефно выявить форму и протяженность дефекта, позволяет сфотографировать рисунок дефекта. Недостаток метода: необходимо удалять защитные покрытия толщенной более 0.03 мм.

Последовательность операций: подготовка деталей(очистка), намагничивание, нанесение ферромагнитного порошка, расшифровка результатов контроля, размагничивание.

Существуют специальные магнитные дефектоскопы для применения этого метода(МДЛ-70).





Дата публикования: 2015-01-26; Прочитано: 1129 | Нарушение авторского права страницы | Мы поможем в написании вашей работы!



studopedia.org - Студопедия.Орг - 2014-2024 год. Студопедия не является автором материалов, которые размещены. Но предоставляет возможность бесплатного использования (0.012 с)...