Микроскопическое изучение строения поверхности изломов при помощи оптического и электронного микроскопов

Микроскопическое изучение поверхности изломов является следующей стадией изучения изломов после визуального осмотра и применяется чаще всего для исследования структуры поверхности разрушения, определения размеров структурных составляющих, оценки, какие структурные составляющие оказываются наименее прочными при разрушении и т.п.

При исследовании с помощью оптического микроскопа основной методической задачей является ориентировка выбранной площадки на изломе по отношению к оптической оси микроскопа. При этом изучают отдельные участки поверхности излома, имеющие некоторую протяженность по плоскости. Поэтому для проведения микроскопического изучения необходим полностью или частично кристаллический излом.

Электрономикроскопические исследования изломов показали, что пластичное разрушение может начинаться от карбидных включе­ний, находящихся на границах зерен (фиг. 6, а); при хрупком разрушении по поверхностям скола образуются ступеньки с сильно оттянутыми острыми гребнями (фиг. 6, б).

Это означает, что на заключительном этапе хрупкого разрушения в зонах между двумя параллельными трещинами происходит сильная пластическая деформация, в результате которой и образуется оттянутый край плоскости скола.

Рис. 6. Электронные микрофотографии поверхности изломов: а- вязкий излом малоуглеродистой стали, х 12 000; б- хрупкий излом малоуглеродистой стали, х 5000.

Следующей особенностью электронного микроскопа, делающей его весьма пригодным для фрактографических исследований, является большая резкость изображения в глубину. Преимуществом электрон­ного микроскопа по сравнению соптическим является также возмож­ность исследования на поверхности изломов любых зон, с которых сняты отпечатки.