Оборудование и материалы. 1. Металлографический микроскоп марки Мetam PB-21-2 (рис

1. Металлографический микроскоп марки Мetam PB-21-2 (рис. 4.1).

Рис. 4.1. Микроскоп металлографический МЕТАМ РВ-21

1 – предметный горизонтальный столик; 2 – винты; 3 – макрометрический винт; 4 – микрометрический винт

Металлографический микроскоп состоит из оптической системы, осветительной системы с фотографической аппаратурой и механической системы. Оптическая система включает объектив, окуляр и ряд вспомогательных оптических элементов: зеркала, призмы и т.п. Объектив дает действительное увеличенное обратное изображение шлифа и представляет собой сложное сочетание линз, расположенных в одной общей оправке и находящихся в непосредственной близости к шлифу. Объектив имеет фронтальную плоско-выпуклую линзу, определяющую возможное увеличение и ряд так называемых коррекционных линз, предназначенных для устранения нежелательных эффектов.

Шлиф освещают обычно через объективы, применяя специальную осветительную систему, состоящую из источника света, линз, светофильтров и диафрагм. При микроанализе для большинства металлов и других непрозрачных материалов и сплавов применяют наблюдение в светлом поле, т.е. при вертикальном освещении, когда световые лучи попадают на микрошлиф через объектив, который собирает их на поверхности шлифа. При наблюдении в светлом поле лучи от источника света 1 (рис.4.2) проходят через линзу 2, теплофильтр 3, осветительную линзу 5, ирисовую диафрагму 6, отражаются от плоскопараллельного полупрозрачного отражателя 7 и направляются через объектив 9 на объект 11.

Рис. 4.2.Схема оптической системы металлографического микроскопа МetamPB-21-2

1 – источник света; 2 – линза; 3 – теплофильтр; 4 – светофильтр; 5 – осветительная линза; 6 – ирисовая диафрагма; 7 – отражатель; 8 – кольцевой отражатель; 9 – объектив; 10 – параболический конденсатор; 11 – объект; 12 – анализатор; 13 – окуляр; 14 – призменный блок; 15 – призма; 16 – анализатор; 17 – линза; 18 – зеркало; 19 – диафрагма; 20 – поляризатор.

Лучи, отраженные от поверхности объекта, снова проходят через объектив и отражатель, попадают на зеркало 18 и сводятся линзой 17 в фокальную плоскость окуляра 13, где создается обратное и увеличенное изображение объекта.

С помощью призмы 15 изменяется направление оптической оси микроскопа. Призменный блок 14 бинокулярной насадки разделяет пучок лучей.

При наблюдении в темном поле из хода лучей выключается отражатель 7, линза 5 и вводится диафрагма 19, центральная зона которой экранирована.

Свет, пройдя через диафрагму 19, отражается от кольцевого отражателя 8 и попадает на параболический конденсатор 10, который собирает пучок лучей на объекте.

Лучи, диффузно отраженные от неровностей объекта, попадают в объектив. В поле зрения микроскопа неровности объекта изображаются светлыми на общем темном фоне.

Для получения равномерного освещения исследуемого объекта в светлом поле в ход лучей вводится осветительная линза 5 с матированной поверхностью, а для повышения контрастности изображения объекта вводится светофильтр 4. При наблюдении в поляризованном свете в ход лучей вводятся отражатель 7, анализатор 16 и поляризатор 20.

Механическая система микроскопа состоит из штатива, тубуса и предметного столика (рис.4.1).

Шлиф устанавливают на предметный горизонтальный столик 1 (рис.4.1), который можно передвигать в двух взаимно перпендикулярных горизонтальных плоскостях с помощью винтов 2, что позволяет просматривать микроструктуру в различных участках шлифа.

Для получения чёткого изображения шлиф наводят на фокус при помощи макрометрического винта 3. Точное фокусирование достигается микрометрическим винтом 4.

2. Шлифовально-полировальный станок MP-2 (см раб.3) это если судя по порядку ввыполнения работ шлиф все таки еще раз полируется.

3. Металлографический шлиф (см. раб.3) или если они тут исследуют не шлиф, то металлические образцы из… размером …

4. Растворы для поверхностного и глубокого травления шлифа