Студопедия.Орг Главная | Случайная страница | Контакты | Мы поможем в написании вашей работы!  
 

Метод статистического моделирования на ЭВМ



Суть данного метода состоит в том, что результат испытания зависит от случайной величины, распределенной по закону (напр. Равномерный, экспотенциальный, нормальный.)

Результат каждого отдельного исследования носит случайный характер. Проведя серию испытаний, получают множество значений наблюдаемой величины.

Погрешность результатов понижается с увеличением числа наблюдений.

Особенностью метода является то, что получаемая в результате моделирования информация по своей природе аналогична той информации, которую можно было бы получить в процессе исследования реальной системы, однако объем ее значительно больший и на ее получение затрачивается меньше средств и времени. Отсюда следует эффективность использования метода моделирования, а также высокая точность и достоверность получаемых с его помощью результатов по сравнению с исследованием реальной системы.

Метод моделирования обычно используется для решения двух классов задач: детерминированных и вероятностных. Наибольший практический интерес представляет применение метода к вероятностным задачам, что позволяет решать задачи, не сформулированные в виде уравнений или формул.

В основе решения на ЭВМ вероятностных задач лежит моделирование случайных явлений. Различные случайные величины, характеризующие отдельные стороны исследуемого процесса, воспроизводятся на ЭВМ с помощью случайных чисел в соответствии с заданными законами распределения.

Теоретической основой метода моделирования служит закон больших чисел. Следовательно, этот метод основан на самых общих теоремах теории вероятностей и принципиально не содержит никаких ограничений.





Дата публикования: 2015-02-03; Прочитано: 481 | Нарушение авторского права страницы | Мы поможем в написании вашей работы!



studopedia.org - Студопедия.Орг - 2014-2024 год. Студопедия не является автором материалов, которые размещены. Но предоставляет возможность бесплатного использования (0.005 с)...