Дифракция электронов и электронный микроскоп

Электроны, подобно рентгеновским лучам и нейтронам, рассеиваются атомными плоскостями. Электронные дифракционные картины получаются с помощью просвечивающего (трансмиссионного) электронного микроскопа (ПЭМ). Отличие дифракции электронов от рентгеновских лучей и нейтронов заключается в том, что дифракция электронов происходит приблизительно в 100 раз интенсивнее, что позволяет исследовать гораздо меньшие объемы вещества, чем при рентгеновских исследованиях. Главное различие, однако, состоит в том, что электроны, в отличие от рентгеновских лучей могут фокусироваться магнитными линзами, что с легкостью позволяет получать изображение на ПЭМ. Существует много общего в получении изображения в обычном поляризационном микроскопе и в электронном. У ПЭМ источником электронов является нить электронной пушки. Электроны образуются при прохождении через нить сильного электрического тока и ускоряются за счет разности потенциалов между анодом и катодом. Затем пучок электронов проходит через ряд электромагнитных линз, которые фокусируют электроны в пучок. После этого пучок проходит через образец, и электроны рассеиваются атомными плоскостями. Затем дифрагированный пучок проходит через линзы объек5тива, а затем через систему промежуточных и проекционных линз, которые служат для увеличения изображения и проецирования его на экран. Для того, чтобы электроны не рассеивались, в колонне микроскопа создают вакуум. Для электронно-микроскопических исследований применяют очень тонкие образцы (толщиной менее 1 мкм), а для того, чтобы получить изображение образец должен быть не толще 10 нм (это достигается растирание образца в порошок).