Процедура поиска дефектов в дискретных объектах

Методы построения алгоритмов поиска дефектов можно исполь­зовать при анализе как непрерывных, так и дискретных объектов. Ниже рассмотрены принципы поиска дефектов, характерных только для дискретных объектов. Поиск дефекта осуществляют, подавая на вход последовательности тестовых воздействий и анализируя реакции на выходе объекта.

Если объект многополюсный, то на вход объекта подают вектор X_i и на выходе анализируют вектор Y_i. Как на первом, так и на втором этапах в первую очередь определяют минимальное число входных век­торов, обеспечивающих решение задачи.

В принципе, процедура поиска дефекта может быть последова­тельной или комбинаторной. При реализации последовательной про­цедуры поиска каждый входной вектор выбирается с учетом реакции объекта на предыдущий входной вектор. Из рисунка 7.10, а видно, что при подаче на вход объекта теста Т₁ все множество состояний s₁, …, s₇ (s₁, …, s₇ — различные дефекты) разбивают на 4 группы: s₂ — при выходном векторе Y₁; s₁, s₃, s₅ — при выходном векторе Y₂; s₄ — при выходном векторе Y₃ и s₆, s₇ — при выходном векторе Y₄. При последующей подаче на вход объекта тестов T₂ и T₃ группы со­стояний (дефектов) разбивают соответственно на состояния s₁, s₃, s₅ и s₆, s₇. Таким образом, процедура позволяет обнаружить все дефекты, т. е. различить все состояния.

В более сложных случаях при построении процедуры поиска де­фекта используют оценку значимости каждого теста. При построении схемы процедуры у каждой вершины решают вопрос о выборе после­дующего теста на основе сопоставления значимости возможных те­стов. Для реализации выбирают наиболее значимый тест. Процедуру заканчивают при обнаружении дефекта.

В качестве примера рассмотрим случай, когда на каждом шаге процедуры будет выбран тест, обнаруживающий наибольшее число дефектов из ранее необнаруженных. В качестве критерия вы­бора теста использовано отношение

(7.19)

где n_Д и n_И.Д — соответственно общее число возможных дефектов и число дефектов, не обнаруженных тестом.

Рисунок 7.10 – Схемы последовательной (а) и комбинаторной (б) процедур поиска дефекта