Регистры управления, отладки и тестирования

В состав регистров управления, отладки и тестирования (рис.3.17) входят:

· 4 тридцатидвухразрядных управляющих регистра (CR0, CR1, CR2, CR3),

· 8 тридцатидвухразрядных регистров отладки (DR0 ¸ DR7,

· 5 тридцатидвухразрядных тестовых регистров (TR3 ¸ TR7)

CR0– СR3	В реальном	Управляющие регистры
DR0-DR7	режиме	Регистры отладки
TR3-TR7	доступны	Тестовые регистры
Рис. 3.17. Системные регистры

Вопросы для самопроверки:

1. Количество и разрядность РОН в МП IA-32.

2. В чем выражается увеличение симметричности использования РОН в МП IA-32.

3. Назначение регистра флагов в МП IA-32.

4. Флаги кодов условий регистра флагов в МП IA-32.

5. Содержимое полей сегментных регистров в МП IA-32.

6. Размерность, поля и использование дескрипторных регистров, ассоциативно связанных с сегментными регистрами в МП IA-32.

7. Количество сегментных регистров и их назначение в МП IA-32.

8. Назначение и максимальный размер таблицы GDT в МП IA-32.

9. Назначение и максимальный размер таблицы LDT в МП IA-32.

10. Назначение и максимальный размер таблицы IDT в МП IA-32.

11. Назначение и содержимое GDTR в МП IA-32.

12. Поля GDTR в МП IA-32.

13. Назначение и содержимое IDTR в МП IA-32.

14. Поля IDTR в МП IA-32.

15. Назначение и поля селектора IDTR в МП IA-32.

16. Назначение и поля дескриптора IDTR в МП IA-32.

17. Назначение и поля селектора TR в МП IA-32.

18. Назначение и поля дескриптора TR в МП IA-32.