Главная Случайная страница Контакты | Мы поможем в написании вашей работы! | ||
|
Словари неисправностей для диагностического теста для первого и второго вариантов
Проверка | Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si | |||||||
S0 | S1 | S2 | S3 | S4 | S5 | S6 | S7 | |
П1 | ||||||||
П2 | ||||||||
П3 | ||||||||
П4 | ||||||||
П5 | ||||||||
П6 | ||||||||
П7 |
φ1,2 = π1 π2 π3 π4 π7 π6 φ1,3 = π1 π4 φ1,4 = 0 φ1,5 = π1 π3 π4 π6 φ1,6 = π1 π3 π4 π7
φ1,7 = π1 π3 π4 π5 π6 φ2,3 = π3 π2 π6 π7 φ2,4 = π1 π2 π3 π4 π7 π6 φ2,5 = π2
φ2,6 = π2 π6 φ2,7= π2 π5 π7 φ3,4 = π1 π4 φ3,5 = π3 π6 π7 φ3,6= π1 π2 π4 π6 π7 π8
φ3,7 = π3 π7 φ4,5 = π1 π3 π4 π6 π7 φ4,6 = π1 π3 π4 π7 φ4,7 = π1 π3 π4 π5 π6 φ5,6 = π6
φ5,7 = π5 π7 φ6,7 = π5 π7 Т’д
Тд
Проверка | Результат R проверки для системы, находящейся в состоянии | ||||||
S1,4 | S2 | S3 | S5 | S6 | S7 | ||
Π1 | |||||||
Π2 | I | ||||||
Π6 | |||||||
Π7 | I |
Проверка | Результат R проверки для системы, находящейся в состоянии | ||||||
S0 S1,4 | S2 | S3 | S5 | S6 | S7 | ||
Π1 | |||||||
Π2 | I | ||||||
Π6 | |||||||
Π7 | I | ||||||
П5 |
При сравнении выражений следует, что Тд' имеет большую длину, чем Тд. Тесты Тд1 и не обеспечивают полную проверку системы, так как не содержат проверки П5 с помощью которой обнаруживается неисправность N5, (см. табл. 3.2), а тесты Т'д1 и Т'д2 обеспечивают полную проверку системы. Словарь неисправностей для Т'дсодержит, помимо граф, соответствующих классам эквивалентных неисправностей, также графу S0 соответствующую исправному состоянию системы.
Входной набор | F | f 1 | f2 | F3 | F4 | F5 | F6 | F7 | F8 | F9 | f10 | |
Nb | abc | При внесении неисправности | ||||||||||
А1 | а0 | C11 | C10 | B11 | B10 | B21 | B20 | C21 | C20 | |||
00 1 | ||||||||||||
0 1 0 | ||||||||||||
0 I 1 | ||||||||||||
1 00 | ||||||||||||
1 0 1 | I | |||||||||||
1 1 0 | т | I | ||||||||||
11 1 |
Два других вида неисправностей не имеют аналогичных эквивалентных неисправностей. В то же время они существенно изменяют структуру схемы и, что самое главное, имеют большое число разновидностей. По этой причине неисправности соединительных проводов контролируются только тривиальными тестами. Поэтому на практике часто используют такой принцип проверки релейно-контактных схем. Сначала проверяют исправность монтажа схемы, а затем в схему включают реле и проверяют контакты и обмотки реле.
Входной набор | F | f1 | f2 | f3 | f4 | f5 | f6 | f7 | f8 | ||
при внесении неисправности | |||||||||||
№ | авс | a1 | a0 | b11 | b01 | c1 | c0 | в12 | в02 | ||
(3.2) По таблице функций неисправности с помощью формул определяют диагностические тесты.
По таблице функций неисправности с помощью формул определяют диагностические тесты.
Для логической схемы тест представляет собой совокупность входных наборов, которые удобно обозначать номерами, соответствующим их десятичным эквивалентом. Так, например, из сравнения значений состояния реле F и f1 следует, что проверяющая функция φ1 принимает значение 1 только на входном наборе авс = 110 и 111. на остальных наборах значение F и f1 совпадают, а следовательно значение функции =0.
Аналогично для остальных проверяющих функций имеем φ2=2v2, φ3=0, φ4=2v3, φ5=0v4, φ6=1v5, φ7=7, φ8=1v5. Проверяющий тест:
Tп = φ1… φ8 = 0127v0257 v0137 v0357. Это выражение содержит 4 мин теста.
Для построения диагностических тестов для каждой пары неисправности ТФН находим различающую функцию:
φ12=2v3v6v7, φ13=0v6v7, φ15=0v4v6v7, φ16=1v5v6v7 φ23=0v2v3, φ25=0v2v3v4, φ26=1v2v3v5, φ27=2v3v7, φ34=0v2v3v, φ35=4, φ36=0v1v5, φ37=0v7, φ17=6, φ56=0v1v4v5, φ157=0v4v7, φ67=1v5v7, φ78=1v5v7. Первый вариант диагностического теста используют в том случае, если заведомо известно, что система неисправна, и поэтому переел тестированием ставится лишь одна задача – обнаружение неисправного элемента. В этом случае Тд - логическое произведение различающих функций: Тд=46(0v2v3)(1v2v3v5)(2v3v7)(0v1v5)(1v5v7), после минимизации имеется 2 минимальных теста: Тд1=2456 и Тд2=1246.
Входной набор | F | f1 | f2f4 | f3 | f5 | f6f8 | f7 | ||
при внесении неисправности | |||||||||
№ | авс | a1 | a0 b10 | b11 | c1 | c0b02 | b12 | ||
28 Классы эквивалентнвх неисправностей (закан {a1} {a0 b10 }{b11 }{c1 }{c0b02 }{b12 }
Поиск неисправностей осуществляется следующим образом: на входы схемы последовательно подаются входные наборы, входящие в диагностический тест для каждого случая фиксируется значение выхода схемы, например по состоянию реле F. Полученные результаты сравниваются с данными, приведёнными в словаре неисправностей. Если значения совпадают, значит, схема имеет данное состояние, или одно из данных состояний. Недостатком ТФН является её большие размеры, поэтому при расчёте тестов на ЭВМ для хранения ТФН требуется большой объём памяти, что существенно снижает размерность решаемых задач. В связи с этим для различных объектов диагноза разработаны специальные модели и методы, которые не имеют универсального характера, но с учётом особенностей объекта позволяют более просто решать задачи построения тестов.
Диагностический тест второго рода используют тогда, когда задача неисправности и задача проверки исправности системы совмещаются в едином процессе диагноза (заранее неизвестно, что тестируемая система неисправна). Такой подход чаще используют на практики. Тд*=Тп *φ12*…* φ78
Т*д=012746(0v2v3v)(1v2v3v5)(2v3v7)(0v1v5)(1v5v7). После минимизации получаем до хера диагностических тестов. Из результатов анализа полученного множества следует, что оно содержит 1 мин тест T*д=012467. Словарь неисправностей:
Тезисы: проверяющий тест – совокупность проверок, позволяющих обнаружить в системе любую неисправность из заданного списка (множества). Решает задачи проверки работоспособности (в список вкл только те неисправности, которые приводят к отказу системы). Диагностический тест – это совокупность проверок, позволяющих указать место неисправности с точности до класса эквивалентных неисправностей.
Входной набор | F | f1 | f2f4 | f3 | f5 | f6f8 | f7 | ||
при внесении неисправности | |||||||||
№ | авс | a1 | a0 b10 | b11 | c1 | c0b02 | b12 | ||
Тп для элементов И, ИЛИ, НЕ, И-НЕ, ИЛИ-НЕ
Логический элемент ЛЭ представляет собой устройство, имеющее n входов и одни выход, на котором реализуется некоторая функция алгебры логики (ФАЛ) F(x). Неисправность во внутренней структуре ЛЭ приводит к тому, что на его выходе вместо функции F(x) реализуется функция неисправности f(x). Тест проверки ЛЭ должен определить, какую из функций [F(x) или f(х)] реализует элемент. Число и вид функций неисправности зависят от внутренней структуры ЛЭ. Анализ неисправностей и построение теста ЛЭ выполняют при помощи ТФН.
Условное обозначение и принципиальная схема ИЛИ-НЕ
х1 ЛЭ
F (x)
хп
Рассмотрим процесс построения теста на приме логического элемента, построенного на транзисторах, который реализует функцию ИЛИ-НЕ.
Рассмотрим возможный неисправности схемы. Обрывы резисторов (короткие замыкания резисторов маловероятны). Обрыв и короткое замыкание перехода эмиттер-коллектор транзистор (обрывы и кз переходов эмиттер-база и база коллектор, приводящие к неисправностям). Будем рассматривать только одиночные повреждения деталей. Хотя в данном случае тест, построенный для одиночного повреждения будет обнаруживать любую их совокупность. N1-N4 – соответствующие обрывы резисторов.
N5 короткое замыкание ЭК транзистора.
N6 холостой ход перехода ЭК транзистора.
N7-N9 обрывы базы, эмиттера, коллектора транзистора.
№ | Входной набор | F | f1 | f2 | f3 | f4 | f5 | f6 | f7 | f8 | f9 | |
Х1 | Х2 | При внесении неисправности | ||||||||||
N1 | N2 | N3 | N4 | N5 | N6 | N7 | N8 | N9 | ||||
Функции неисправностей определяют моделированием работы элемента с внесённой неисправностью. Например, при обрыве резистора R1 элемент ИЛИ-НЕ превращается в элемент НЕ одним входам Х2, f = инверсноеХ2. Во многих логических элементах имеются детали, повреждение которых не изменяет логическую функцию элемента. Их используют в целях стабилизации параметров, или обеспечение помехоустойчивости элементов. Так в логическом элементе ИЛИ-НЕ к таким деталям относится резистор R4 в цепи смещения. Обрыв этого резистора не влияет на правильную работу элемента или, при определённых условиях, приводит к короткому замыканию перехода эмиттер-коллектор. Повреждение таких элементов не обнаруживается логическими тестами, а требуется специальное испытание элементов. Поэтому соответствующие неисправности исключаются из ТФН. Кроме того, в любом логическом элементе имеется большое число неисправностей, которые являются эквивалентными. В ТФН они имеют одинаково заполненные столбцы. В приведённой таблице образуем 2 класса эквивалентных неисправностей N^0 = N3,N5 и N^1=N6,N7,N8,N9. В результате этого мы получаем сжатую ТФН.
№ | Входной набор | F | f1 | f2 | f^0 | f^1 | |
Х1 | Х2 | При внесении неисправности | |||||
N1 | N2 | N^0 | N^1 | ||||
(33) Из ТФН находим проверяющий тест.
Из полученного теста следует, что элемент ИЛИ-НЕ проверяется тремя входными наборами. Первый обнаруживает все дефекты, приводящие появлению на выходе 0 вместо 1. Второй набор обнаруживает дефект второго входа. Третий обнаруживает дефект входа Х1. Все дефекты, из за которых на выходе появляется сигнал 1 вместо 0 обнаруживаются на 2 и 3 наборах. Данная структура теста, а так же сжатая таблица функций неистпавности характерна для любого элемента простого базиса, к которому относятся элементы И, ИЛИ, ИЛИ-НЕ, И-НЕ, НЕ. Для них длина теста L=n+1, где n – число входов, при этом n наборов используют для проверки каждого из входов, а один набор используется для обнаружения отказа 1 в 0 или 0 в 1. Тесты для элементов простого базиса, имеющих 2 входа.
Дата публикования: 2015-10-09; Прочитано: 472 | Нарушение авторского права страницы | Мы поможем в написании вашей работы!