Погрешности метода измерения или теоретические погрешности

Любое измерение имеет предел точности. Какой бы мы не создали измерительный инструмент, всегда будут существовать рамки возможной точности, превзойти которые созданием совершенных измерительных устройств невозможно. Всегда при измерениях идут на допущения.

И электрических измерениях постоянным источником систематической мутности являются собственные сопротивления приборов, собственная емкость и индуктивность проводников. При использовании законов для цепей постоянного и переменного тока как правило исконные электрические параметры не учитываются. Не учитываются в большинстве случаев и возможные термо ЭДС в цепи или образования гальванических пар. Особенно сложный фактор многообразия различных форм существования измеряемого компонента в случае элементного анализа.

При температурных измерениях всегда существуют погрешности, связанные температурными градиентами, т. е. с неоднородностью температурного поля. Практически невозможно реализовать такую ситуацию, когда все части термоизоляции будут находиться в одинаковых температурных условиях а термопарный термометр кроме полезного сигнала зарегистрирует все влияния температурных градиентов на ЭДС термопары. При оптических измерениях, особенно в измерении характеристик светового потока — фотометрии, постоянный источник систематических погрешностей – это рассеянный свет в измерительных приборах. Поскольку не существует идеально отражающих и идеально поглощающих поверхностей, в любой ситуации внутри каждого прибора существует некий фон паразитной подсветки.

В магнитных измерениях источником систематической погреши служит, как уже указывалось, магнитное поле Земли, а также электромагнитные поля, создаваемые теле- и радиопередатчиками, линиями электропередач. В зависимости от расстояния между измерительным прибором и источником помех такого рода влияние может быть очень сильным.

К систематическим погрешностям метода измерения относятся не тол ко перечисленные погрешности, которые можно назвать инструментальными, поскольку они есть следствие влияния каких-либо причин на измерительный прибор, но и систематические погрешности метода и процедуры приготовления объекта к измерениям. Особенно наглядно это видно в измерениях состава веществ и материалов. Погрешности в аттестации стандартного образца непосредственно ограничивают точность измерения в любом методе, когда используются при калибровке и градуировке стандартные образцы.