Вероятность дефекта
| Возможные частоты дефектов
| Индекс Срк
| Балл О
|
Очень высокая: дефект почти неизбежен
| Более 1 из 2
» 1 из 3
| Менее 0,33» 0,33
| 10 9
|
Высокая: ассоциируется с аналогичными процессами, которые часто отказывают
| Более 1 из 8
» 1 из 20
| Менее 0,51» 0,67
|
|
Умеренная: в общем ассоциируется с предыдущими процессами, у которых наблюдались случайные дефекты, но не в большой пропорции
| Более 1 из 80
» 1 из 400
» 1 из 2000
| Менее 0,83» 1,00
» 1,17
|
|
Низкая: отдельные дефекты, связанные с подобными процессами
| Более 1 из 15000
| Менее 1,33
|
|
Очень низкая: отдельные дефекты, связанные с почти идентичными процессами
| Более 1 из 150000
| Менее 1,50
|
|
Малая: дефект маловероятен. Дефекты никогда не связаны с такими же идентичными процессами
| Менее 1 из 1500000
| Более 1,67
|
|
Таблица 25.3
Рекомендуемая шкала для выставления балла
обнаружения D (FMEA процесса)
Обнаружение
| Критерии: вероятность обнаружения дефекта при контроле процесса до следующего или последующего процесса или до того, как часть или компонент покинет место изготовления или сборки
| Балл D
|
Почти невозможно
| Нет известного контроля для обнаружения вида дефекта в производственном процессе
|
|
Очень плохое
| Очень низкая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Плохое
| Низкая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Очень слабое
| Очень низкая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Слабое
| Низкая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Умеренное
| Умеренная вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Умеренно хорошее
| Умеренно высокая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Хорошее
| Высокая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Очень хорошее
| Очень высокая вероятность обнаружения вида дефекта действующими методами контроля
|
|
Почти наверняка
| Действующий контроль почти наверняка обнаружит вид дефекта. Для подобных процессов известны надежные методы контроля
|
|